+7 905 266-43-41

О компании

Компания «Поларлайт» занимается разработкой спектральных эллипсометров – оптических приборов для бесконтактного измерения толщины, оптических свойств, состава, шероховатости тонких слоев из полупроводников, диэлектриков, металлов. Такие измерения востребованы при массовом производстве солнечных батарей, дисплеев, микросхем и микропроцессоров, при разработке новых технологий напыления тонких слоев из различных материалов.

Ellipsometry

В процессе работы эллипсометр измеряет насколько изменилось состояние поляризации света при отражении от исследуемой тонкопленочной структуры под заданным углом θ. В общем случае после отражения, линейно поляризованный свет приобретает эллиптическую поляризацию. Анализ изменения поляризации позволяет вычислить: — толщины осажденных слоев — параметры шероховатости поверхности и границ раздела — параметры зонной структуры полупроводников — концентрацию примесей — состав твердых растворов — степень микрокристалличности — степень пористости  

 

  Logo_Skolkovo_RUS

 

Исследования и разработки осуществляются при грантовой поддержке Фонда «Сколково».

 

 

2015 — 2020 ООО «Поларлайт». Все права защищены.
e-mail: info@polarlight.tech
Тел.: +7 905 266-43-41